Описание

Ключевые возможности и технические характеристикиПросмотр активности внутренних сигналов ПЛИС, коррелированных с внешними аналоговыми сигналами
  • Возможность просмотра активности внутренних сигналов ПЛИС Xilinx
  • Возможность измерения до 64 внутренних сигналов на каждом внешнем выводе ПЛИС, выделенном для целей отладки
Выполнение множества измерений за секунды
  • Переключение внутренних контрольных точек за считанные секунды. При использовании приборов, не имеющих этой возможности, перемещение контрольных точек внутри ПЛИС требует значительных затрат времени. Теперь менее чем за секунду можно выполнить измерения на различных наборах внутренних сигналов без изменения схемы ПЛИС.
Оптимизация работы в среде проектирования
  • Автоматический перенос названий внутренних сигналов из ПЛИС в осциллограф смешанных сигналов позволяет оптимизировать работу в среде проектирования
Требования
  • Поддержка ПЛИС серий Virtex-6, Virtex-5, Virtex-4, Virtex-II Pro, Virtex-II и Spartan-3
  • Требуется программное обеспечение ChipScope Pro компании Xilinx или встроенный комплект разработки (Embedded Development Kit, EDK)
Поддерживаемые серии осциллографов
  • Серия Infiniium 9000A
  • Серия Infiniium 9000 H
  • Серия Infiniium 90000 X
ОписаниеДинамический пробник N5497A для отладки ПЛИС с помощью осциллографов смешанных сигналов Keysight серии Infiniium обеспечивает более быстрый и эффективный способ отладки и аттестации устройств, содержащих ПЛИС компании Xilinx. Измерение параметров внутренних сигналов может осуществляться без остановки ПЛИС, модификации модели HDL или изменения временных соотношений внутри ПЛИС.Программный интерфейс разработанного компанией Keysight динамического пробника для отладки ПЛИС с ядром отладки ATC2 включен в состав программного обеспечения Xilinx ChipScope Pro.''